Radiofréquences

L’ensemble de ces moyens permettent de couvrir la plupart des besoins en matière de tests fréquentiels, temporels et de bruit dans une large gamme de fréquences, pour des dispositifs connectorisés, mis en boîtier ou sur tranche (wafer).
La plateforme couvre notamment les domaines suivants :

• La mesure des paramètres S petits signaux, en 2 ports jusqu’à 110GHz et en 4 ports jusqu’à 67GHz Plusieurs analyseurs vectoriels de réseaux permettent d’adresser différentes applications (par exemple le test de filtres, d’amplificateurs, de mélangeurs, de multiplieurs, d’antennes, etc…)
• La mesure en régime non linéaire, grand signal jusqu’à 60GHz
  Point de compression et d’intermodulation, distorsion harmonique

 

• L’analyse spectrale et de signaux jusqu’à 90GHz, de puissance RF jusqu’à 110GHz
  Plusieurs analyseurs de spectre et de signaux sont disponibles et disposent de fonctionnalités embarquées telles que la mesure de bruit de phase, l’analyse de signaux vectoriels ou encore le mélange harmonique externe. La mesure de puissance RF large bande peut être assurée par plusieurs sondes détectrices, de quelques MHz à 110GHz.
• La mesure de la figure de bruit sous 50 ohms jusqu’à 26GHz
  Différents récepteurs sont possibles, de l’analyseur de spectre au mesureur de figure de bruit dédié, associé à une source de bruit de référence étalonnée.
• La génération de signaux harmoniques analogiques jusqu’à 110GHz
  Les générateurs proposés couvrent la plupart des besoins en matière de génération de signaux RF : à balayage, synthétisé, faible bruit de phase, puissance élevée, bandes millimétriques V et W.
• La modulation analogique ou numérique de signaux
  Des fonctionnalités variées de modulation de signaux sont accessibles : modulations analogiques (AM, PM, FM, PULSE) et modulations complexes (arbitraires, standards de communication numérique, custom)
• L’analyse temporelle de signaux jusqu’à 12GHz en temps réel
  Des oscilloscopes à échantillonnages numériques temps réel, de bande passante 4GHz, 6GHz et 12GHz sont disponibles pour les applications nécessitant une capture instantanée de signaux rapides périodiques ou non. Ces équipements peuvent également être utilisés en tant de convertisseur performant analogique – numérique pour l’analyse de signaux complexes.
• La réflectométrie temporelle subnanoseconde (TDR/TDT)
  Des solutions de mesure basées sur un oscilloscope à échantillonnage numérique en temps équivalent, couplé à des générateurs d’échelons ultracourt (quelques dizaines de ps) offrent par exemple la possibilité d’extraire la signature temporelle des interconnexions RF (lignes simples ou couplées) et d’en déduire une modélisation spatiale fine.
• La mesure sous pointes de dispositifs passifs et actifs, en 2 ports jusqu’à 110GHz, en 4 ports jusqu’à 67GHz
  Plusieurs stations de test sous pointes manuelles ou semi-automatiques peuvent être utilisées, pour des wafers jusqu’à 300mm de diamètre. Un vaste choix de sondes RF et DC peut être proposé en fonction de l’application visée.
• La mesure de dispositifs différentiels RF, à partir d’une excitation single ou différentielle vraie dans le domaine fréquentiel ou temporel.
  Extraction des paramètres S différentiels, de mode commun et de modes mixés.
• La caractérisation de matériaux
  Banc d’analyse vectorielle de réseaux en espace libre autour de 90GHz.
  Bancs basés sur l’utilisation de cavités résonantes.